硅光子和PIC測試

硅光子和光子集成最/全面、最快速的測試方案

LUNA提供基于光頻域反射技術(shù)（OFDR）的獨(dú)/特測試系統(tǒng)，和為現(xiàn)代硅光子 集成器件提供準(zhǔn)確和快速的測試方案。

10μm空間分辨率的器件光路損耗測試

Luna的超高空間分辨率背光反射計(jì)，具備背向散射級的探測靈敏度，為光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析。

一臺設(shè)備即可測試器件的全部光學(xué)參數(shù)

Luna光矢量分析儀（OVA）能夠通過對光無源器件的一次掃描測量，即可完成 對線性傳輸矩陣 (瓊斯矩陣)、插入損耗 (IL)、群延時(shí) (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相關(guān)損耗 (PDL) 等關(guān)鍵光學(xué)參數(shù)的測量。

全新6415光器件分析儀

Luna全新的6415是一款同時(shí)具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計(jì)產(chǎn) 品，同時(shí)可提供插入損耗（IL）的透射測試和分析模式，是產(chǎn)線檢測和品質(zhì)控 制的理想選擇。

應(yīng)用

?生產(chǎn)測試

?質(zhì)量控制

?生產(chǎn)問題診斷

?設(shè)計(jì)表征與分析

?驗(yàn)證模型并改進(jìn)仿真

?無源光器件和模塊：濾波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光柵、WSS、ROADMs等

示例：平面光波導(dǎo)的表征

平面光波導(dǎo)作為硅光子平臺的關(guān) 鍵組成部分，對測量方法提出了 更高的挑戰(zhàn)，包括在單位長度內(nèi) 存在更大的損耗、更高的偏振相 關(guān)性等等。

Luna的掃描激光干涉技術(shù)，能夠通過對器件的掃描，獲得沿器件光路的 亞毫米級空間分辨率的損耗測量結(jié)果，同時(shí)也可獲得更全面的其他光學(xué)參 數(shù)指標(biāo)。比如對波導(dǎo)光柵的測量，我們能夠同時(shí)獲得波導(dǎo)光柵在時(shí)域上的 端面及尺度特性，以及在頻域上的頻譜響應(yīng)特性。

使用Luna的分析軟件，您可以區(qū)分并挑選合適的光柵反射區(qū)域，從而可 以輕松觀察到TM模和TE模在頻譜響應(yīng)中表現(xiàn)出的不同偏振效應(yīng)。否則， 整體頻譜響應(yīng)（如下圖中紅色曲線所示）將被很強(qiáng)的端面反射造成的頻譜 響應(yīng)所充滿。

時(shí)域響應(yīng)結(jié)果顯示，強(qiáng)烈的端面反射和波導(dǎo)光柵反射能夠被清晰 的區(qū)分和呈現(xiàn)。

通過時(shí)域響應(yīng)能夠很容易地確定光柵反射峰值，從而可僅對光柵部 分進(jìn)行頻譜分析（藍(lán)色曲線）。波導(dǎo)的整體頻譜響應(yīng)如紅色曲線所示。

*的硅光子和 PIC 測試解決方案

Luna*的光學(xué)測量系列產(chǎn)品，基于光頻域反射技術(shù)（OFDR），具有業(yè)界領(lǐng)/先的測試動(dòng)態(tài)范圍、時(shí)域和頻譜測試分辨率以及 測試速度。

硅光子和PIC測試